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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-9800中國(guó)代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測(cè)量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評(píng)估物體的顏色和薄膜厚度。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子光學(xué)膜測(cè)厚儀使用光譜干涉測(cè)量的薄膜測(cè)厚儀可集成到各種制造設(shè)備中可進(jìn)行實(shí)時(shí)薄膜厚度測(cè)量
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司上海代理OTSUKA大塚無損非接觸膜厚儀FE-300薄膜厚度計(jì)，通過操作簡(jiǎn)單的高精度光學(xué)干涉測(cè)量實(shí)現(xiàn)薄膜厚度測(cè)量。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚 顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測(cè)量各種薄膜，晶圓，光學(xué)材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會(huì)具有破壞性和非接觸性。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo OTSUKA大塚橢圓光譜儀 FE-5000/5000S
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo OTSUKA大塚 嵌入式膜厚監(jiān)測(cè)儀
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo OTSUKA大塚 膜厚監(jiān)測(cè)儀FE-300
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 線掃描膠片測(cè)厚儀OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚 ZITA 電位、粒徑和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZ-2000ZS
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo
