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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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QVH302P1L-E QVH404P1L-E QVH606P1L-E 高分解能、高精度スケールを搭載した高精度モデルです。 測定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動(dòng)とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測定を行い、圧倒的に測定時(shí)間を短縮できるストリーム機(jī)能を裝備することが可能です。 汎用性の高い白色LED照明モデルとエッジ検出能力を高めたRGBカラーLED 照明をラインアップしました。 測定機(jī)本體溫度センサと測定物溫度センサを用いた自動(dòng)溫度補(bǔ)正機(jī)能を標(biāo)準(zhǔn)搭載しています。
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QV-U404P1N-D QV-U404T1N-D 光學(xué)レンズで測定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導(dǎo)體部品、微小な精密加工品醫(yī)療機(jī)器部品などの測定に有用性を示します。 非接觸測定のため、測定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導(dǎo)體部品、樹脂成形品などの軟質(zhì)物、プレス成形品などの薄物の測定に適しています。 培われた畫像処理技術(shù)と高速ステージ制御による高スルー
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QV-U404P1N-D QV-U404T1N-D 光學(xué)レンズで測定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導(dǎo)體部品、微小な精密加工品醫(yī)療機(jī)器部品などの測定に有用性を示します。 非接觸測定のため、測定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導(dǎo)體部品、樹脂成形品などの軟質(zhì)物、プレス成形品などの薄物の測定に適しています。 培われた畫像処理技術(shù)と高速ステージ制御による高スループット測定が可能。測定項(xiàng)目が多い、あるいは量産される測定物の工程管理に適しています。 高精度な非接觸高さ測定が可能です高性能な畫像オートフォーカスや非接觸変位センサにより、高精度な高さ測定が可能です。 タッチトリガープローブとの併用で、測定物を回転させずに任意の高さで側(cè)面も測定でき、従來は困難であった立體物の測定も可能です。 QVシリーズは高性能畫像オートフォーカスを標(biāo)準(zhǔn)裝備しており、畫像オ
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QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機(jī)能を凝縮したコストパフォーマンスに優(yōu)れるCNC畫像測定機(jī)です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機(jī)は、非接觸と接觸測定をシームレスに実現(xiàn)しました。 ズーム比7倍（対物レンズ交換による*大ズーム比14倍）により
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QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機(jī)能を凝縮したコストパフォーマンスに優(yōu)れるCNC畫像測定機(jī)です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機(jī)は、非接觸と接觸測定をシームレスに実現(xiàn)しました。 ズーム比7倍（対物レンズ交換による*大ズーム比14倍）により
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QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機(jī)能を凝縮したコストパフォーマンスに優(yōu)れるCNC畫像測定機(jī)です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機(jī)は、非接觸と接觸測定をシームレスに実現(xiàn)しました。 ズーム比7倍（対物レンズ交換による*大ズーム比14倍）により
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QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機(jī)能を凝縮したコストパフォーマンスに優(yōu)れるCNC畫像測定機(jī)です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機(jī)は、非接觸と接觸測定をシームレスに実現(xiàn)しました。 ズーム比7倍（対物レンズ交換による*大ズーム比14倍）により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細(xì)測定まで幅広く対応可能です。 74 mmの作動(dòng)距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設(shè)計(jì)の自由度が広がり安心して測定できます。（対物レンズZ-Objective 1×裝著時(shí)）
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QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動(dòng)とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測定を行
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QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動(dòng)とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測定を行い、圧倒的に測定時(shí)間を短縮できるストリーム機(jī)能を裝備することが可能です。 QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能で
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ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上 QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動(dòng)とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測定を行い、圧倒的に測定時(shí)間を短縮できるストリーム機(jī)能を裝備することが可能です。
